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博曼镀层膜厚仪该款仪器特别为颇具挑战性的RoHS/ WEEE分析而研发。而且，它还十分适合于测量黄金及其他贵金属，分析金的成分重复性可达0,5 %.
博曼膜厚测试仪对于镀层：不仅可以测量其成分比例，还可以测量器厚度!
博曼膜厚测试仪可靠地测量Pb, Hg, Cd, Br及Cr元素。在塑料中可达到的测量下限Pb为2 ppm，对Cd为10 ppm.
RoHS / WEEE对Pb的限制为1000 ppm以及对Cd为100 ppm，仪器能可靠地予以验证。
塑料样品可以不考虑其厚度而进行准确分析。
博曼膜厚测试仪即使是微小的电子元器件或印刷线路板上的镀层系统也可以高精度地分析。
XY(Z)平台可用来自动扫描印刷线路板
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